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硅片表面形貌测量 AFM
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硅片表面形貌测量VIT系列
硅片表面形貌测量VIT系列NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:-TSV profile (depth, top
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原子力显微镜|英国 NanoMagnetics|硅片表面形貌测量
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安东帕SurPASS固体表面ZETA电位测量仪
仪器简介: 仪器名称:ZETA电位分析仪 研究对象:纤维、薄膜、粉末、粒子、固体金属或非金属片等材料。 主要用途:测量材料的表面电荷,了解材料表面上的电荷状况,研究材料
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晶圆几何形貌测量设备
WD4000晶圆几何形貌测量设备集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组,使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。
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RadEye B20便携式α/β表面污染测量仪
用于测量α,β,γ,X辐射。加窗后,可以测量17KeV-3MeV的γ辐射,还可以区分α,β辐射。多种操作模式,9g氧化镥(50Bq/g,1.4nCi/g)刻度源。 探测器:GM计数管,窗直径44mm
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RadEye AB100便携式α/β表面辐射污染测量仪
RadEye AB100便携式α/β表面污染测量仪采用涂锌塑料闪烁体探测器,灵敏面积高达2500px2。多种操作模式,功耗低,NiMH电池可持续使用1000小时。 端窗:0.87 mg/cm2,覆铝
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安捷伦5500AFM/SPM
一个理想的选择,既能提供一个高清晰、高稳定性、且具有多样功能的SPM系统,可以方便的实现成像气氛控制、温度控制、液相(缓冲溶液、酸碱液)控制等。 5500AFM/SPM是一套功能强大的
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白光干涉三维形貌测量系统
SuperViewW白光干涉三维形貌测量系统集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄,可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。
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帕克 NX7 原子力显微镜 测量表面形貌
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